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高溫超聲波測厚儀的測量誤差受多種因素影響，不同型號的儀器測量誤差也有所不同，以下是一些常見的情況：

- 儀器自身精度：如LA-30高溫超聲波測厚儀，測量范圍在1.0-99.9mm時，誤差為±(5h‰±0.1mm)；測量范圍在1.0-225.0mm時，誤差為±(1h%+1)mm。

- 探頭類型：不同探頭測量精度有別，需配高溫耦合劑，未明確給出誤差范圍，但通常高溫探頭在高溫環(huán)境下的誤差比常規(guī)探頭大。

- 耦合效果：耦合劑的種類、使用量及涂抹方式等影響耦合效果，進而影響測量精度。若耦合劑選擇或使用不當，會產(chǎn)生較大誤差，如耦合劑過多，儀器示值可能為耦合劑層厚度值。

- 材料特性：不同材料聲速不同，若聲速選擇錯誤或材料內(nèi)部存在缺陷、應力等，都會導致測量誤差，如層疊材料、復合非均質材料等特殊材料，測量難度大，誤差也相對較大。

- 測量環(huán)境：高溫環(huán)境會使材料聲速發(fā)生變化，一般固體材料溫度每升高100°C，聲速下降1%，若不進行溫度補償校準，會產(chǎn)生較大誤差，此外，測量時的環(huán)境溫度、濕度等也可能對儀器性能及測量結果有一定影響。

- 操作因素：操作人員的技術水平和經(jīng)驗也會影響測量結果，如探頭放置位置、施壓大小、測量角度等，若操作不當，也會引入誤差。

ORIETG®系列X2測厚儀，采用電磁超聲EMAT傳感器技術，具備超聲測厚與渦流涂層測厚功能，是一款無需聲耦合劑、

非接觸式厚度測量儀器，可實現(xiàn)金屬或導磁性物質的厚度測量和表面涂層厚度測量。